PLC-GOT控制系统提供用于控制回路采样时间的建议

    众所周知，严格地计算离散控制系统的采样周期，需要依据香农定律。但是在大量的工程实践中，经常不具备充分条件。因此，采用估算和测试相结合的方法，有一定的实用价值。下面介绍的办法，估算出来的采样周期Ts至少可以作为进一步优化的起点。特别是对于非线性和时变性不是非常严重的系统，可以满足一般的要求。

    当无法确定被控对象的数学模型时，也就无法计算出在使用最大的控制能力时，使被测量数值变化时所需要的时间。此时，可使用简易的测试法。在系统运行准备完成后，在手动状态下，人为地强行改变PLC的输出DI（即GDI）。假设改变量△DI=△GDI=M≤DIM。同时连续采样PLC的读人数GDO，并记录GDO的变化△GDO =1时经过的时间T0。再记录当△GDO=N≤DOM时，经过的时间T1（可能的条件下，M和N取较大的数，或是取实际使用时的常用范围）。从而计算出可供参考使用的采样周期T。其过程与测试被控对象的“飞升特性”类似。流程框图如图7-6所示。

    图7-6    流程图

   Ts= T0+(T1 - T0)*M/N*DIM    (7-5)

    它的第一项可以理解为纯滞后时间。第二项可以理解为有效反应时间，即可测到的被控参数发生变化的最快时间。

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